Электронная микроскопия

      Электронная микроскопия позволяет достичь набольшего разрешения из всех доступных методов исследования биологических объектов, таких как клетки, клеточные органеллы, бактерии, вирусы, биогенные макромолекулы и т.д. Существует два отдельных направления электронной микроскопии: сканирующая (растровая) микроскопия (РЭМ, СЭМ, SEM), используемая для толстых образцов и просвечивающая микроскопия (ПЭМ, TEM), работающая с тонкими срезами биологических объектов. РЭМ последовательно сканирует поверхность электронно-плотного объекта, регистрируя для каждой его точки такие процессы, как генерация обратно рассеянных электронов, вторичных электронов, характеристического рентгеновского излучения, катодолюминисценции. ПЭМ получает изображение за счёт рассеивания электронов проходящих сквозь тонкий образец, по аналогии с оптическим микроскопом, объект в котором поглощает и рассеивает свет.
     Просвечивающая электронная микроскопия представлена микроскопами JEOL JEM-1400 и JEOL JEM-2100HC, в комплексе с микроскопами имеется сопутствующее оборудование, позволяющее проводить исследования с применением крио-электронных методов, метода электронно-микроскопической томографии, метода исследования отдельных частиц.
     Сканирующая электронная микроскопия представлена микроскопом Tescan MIRA3 LMU с катодом Шотки и настольным сканирующим микроскопом Jeol JCM-5000 NeoScope.
     Ключевую роль в электронной микроскопии играет этап подготовки образца. В центре представлено оборудование как для классической пробоподготовки с химической фиксацией образца, так и оборудование для фиксации образца методом быстрого замораживания, который позволяет одномоментно остановить все биохимические процессы в образце и избежать артефактов присущих химической фиксации.

Просвечивающая электронная микроскопия

Установленные микроскопы

  • Просвечивающий электронный микроскоп 40-120 кВ Jeol JEM-1400
  • Просвечивающий электронный микроскоп 80-200 кВ Jeol JEM-2100HC

Дополнительное оборудование

  • Цифровая камера бокового крепления Olympus Veleta, установленная на микроскопе Jeol JEM-1400
  • Цифровая камера нижнего крепления Gatan Ultrascan 4000, установленная на микроскопе Jeol JEM-2100
  • Цифровая камера бокового крепления Gatan Erlangshen 500, установленная на микроскопе Jeol JEM-2100
  • Система документации с использованием электронно-чувствительных пластин Ditabis Vario
  • Устройство для дессикации фотопластин Jeol EMDSC-30 photoplate degasser
  • Устройство для очистки образцов и держателей от углеводородных загрязнений Jeol JIC-410 
  • Устройство для придания поверхностям углеродных плёнок и алмазных ножей гидрофильности Jeol HDT-400

Дополнительное оборудование для криоэлектронной микроскопии

  • Держатель для криоэлектронной микроскопии и криоэлектронной томографии Gatan 914
  • Вакуумный пост для держателя Gatan 655

Установленное программное обеспечение

Сканирующая (растровая) электронная микроскопия

Установленные микроскопы

Пробоподготовка к электронной микроскопии

em4.png

Диссекция образца

Химическая фиксация / дегидратация образца

  • Автоматическая станция для проводки материала и полимеризации блоков с использованием микроволнового излучения Leica EM AMW
  • Автоматическая станция для проводки гистологического материала Leica TP-1020VF
  • Микроволновый гистопроцессор для фиксации материала с использованием микроволнового излучения Milestone KOS
  • Автоматизированная станция для интракардиальной перфузии лабораторных животных Leica Perfusion Two

Заключение образца/полимеризация/заточка блоков

  • Автоматическая станция для проводки материала и полимеризации блоков с использованием микроволнового излучения Leica EM AMW
  • Автоматическая станция для криозамещения воды и полимеризации блоков с использованием УФ излучения Leica EM ASF2
  • Термостаты для полимеризации блоков
  • Станция для заточки полимеризованных блоков Leica EM TRIM2

Ультратомия

  • Ультрамикротом Leica EM UC7 (N=2)
  • Устройство для изготовления стеклянных ножей из полос толщиной до 10мм Leica EM KMR3

Контрастирование

  • Автоматизированная станция для контрастирование ультратонких срезов солями тяжёлых металлов Leica EM AC20
  • Локальная вытяжка Kugel для работы с токсичными веществами

Автоматическая проводка по методу Immuno-gold

  • Автоматизированная станция для проводки ультратонких срезов по методу иммуно-голд Leica EM IGL

Криофиксация / витрификация

  • Станция для фиксации биоматериала методом замораживания под давлением Leica EM HPF-100

Витрификация на сеточках

  • Устройство для витрификации биологических макромолекул и клеточных органелл на сеточках Leica EM GP

Криозамещение воды

  • Автоматическая станция для криозамещения воды и полимеризации блоков с использованием УФ излучения Leica EM ASF2

Криоультратомия 

  • Криоультратом Leica EM UC7/FC7 для использования метода Токуясу и CEMOVIS

Сушка в критической точке 

  • Устройство для сушки образцов методом перехода через критическую точку углекислого газа Leica EM CPD300

Напыление / плазменная чистка 

  • Устройство для нанесения высокоразрешающих проводящих покрытий и плазменной чистки образцов Leica EM SCD500
  • Устройство для нанесения проводящих покрытий Jeol JEE-420D
  • Устройство для проведения экспериментов замораживания-скалывания, травления, нанесения проводящих покрытий Leica EM BAF-060

Замораживание/скалывание, травление, нанесение проводящих покрытий

  • Устройство для проведения экспериментов замораживания-скалывания, травления, нанесения проводящих покрытий Leica EM BAF-060  Leica EM VCT-100 



Смотрите также оборудование других ресурсных центров СПбГУ: