Jeol JEM-1400

Jeol JEM-1400 STEM
Изображение с сайта www.jeol.com
      Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) позволяет получить наибольшее разрешения из всех доступных методов исследования биологических объектов, таких как клетки, клеточные органеллы, бактерии, вирусы, биогенные макромолекулы. Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400 с установленной STEM-приставкой обладает высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 120 кВ. Применяется в исследованиях биологических образцов для:
    • Изучения тонкой структуры биологических объектов
    • Электронно-микроскопической томографии
    • Криоэлектронной микроскопии (Cryo-TEM) 

      Размещение: василеостровская площадка

      Статус: эксплуатация в режиме тестирования

      › Календарь занятости JEM-1400


      Основные технические характеристики

      Ускоряющее напряжение:
      40, 60, 80, 100, 120 кВ с шагом тонкой настройки в 33В

      Увеличение:
      в режиме ПЭМ (ТЕМ) 50х - 1 200 000х
      в режиме СПЭМ (STEM) 120х - 2 000 000х

      Полюсный наконечник:
      Высококонтрастный, с реализацией ПРЭМ (STEM) режима

      Предельное разрешение:
      в режиме ПЭМ (TEM)
      информационный лимит 0.2 нм
      точечное разрешение 0.38 нм
      в режиме СПЭМ (STEM)
      точечное разрешение 0.19 нм

      Цифровые камеры:
      Боковой порт: Olympus Veleta  4Мпикс, 2К х 2К 14 бит, 5 кадров/сек

      Фотографическая камера:
      На 50 пластинок для формата 100х81мм (формат "USA")
      Ресурсный центр не предоставляет услуг по химической обработке фотоматериалов, рекомендуется использовать систему документации на электронно-чувствительных пластинках (IP-plates) совместно с имеющимся в наличии сканером Ditabis Vario, обеспечивающим разрешение до 6К х 5К (30Мпикс) с линейным динамическим диапазоном в 6 порядков величины.


      Дополнительно:
      Ссылка на сайт производителя

      Принцип работы

      .

      Методики

      Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ, TEM)
      Криоэлектронной просвечивающая микроскопия (Крио-ПЭМ, Cryo-TEM)
      Электронно-микроскопической томографии (ПЭМ-томография, TEM-tomography)
      Просвечивающая растровая (сканирующая) электронная микроскопия (ПРЭМ, STEM)

      Требования к образцам

      Стандартный размер образцов в плоскости держателя ПЭМ 3 мм в диаметре.

      Дополнительные аксессуары

      Цифровая камера бокового крепления Olympus Veleta
      Система документации с использованием электронно-чувствительных пластин Ditabis Vario
      Устройство для дессикации фотопластин Jeol photoplate degasser
      Устройство для очистки образцов и держателей от углеводородных загрязнений Jeol JIC-410
      Устройство гидрофильной очистки Jeol EM-39010
      Томографический держатель Jeol EM-21311HTR
      Держатель для криоэлектронной микроскопии и криоэлектронной томографии Gatan 914
      Вакуумный пост для держателя Gatan 655
      Программное обеспечение Serial EM
      Программное обеспечение STIman
      Программное обеспечение FiJi (ImageJ)