Jeol JCM-5000

jeol-jcm-5000.jpg
Изображение с сайта www.jeol.com

Настольный растровый электронный микроскоп Jeol JCM-5000 (Neoscope)

прибор может быть использован для:

  • Рутинной сканирующей микроскопии (до 30 нм)
  • Рутинной сканирующей микроскопии низкого вакуума

Размещение: василеостровская площадка

Статус: эксплуатация в режиме тестирования



› Календарь занятости JCM-5000 (Neoscope)


Основные технические характеристики

диапазон увеличений от 10 до 30 000 крат
простое и быстрое получение изображения неподготовленным пользователем: от установки образца до получения изображения менее 3 минут;
возможность управления в режиме диалога;
библиотека рекомендованных решений для разных типов образцов;
запуск прибора менее 10 минут;
выбор ускоряющего напряжения из трех фиксированных значений: 15 кВ, 10 кВ, 5 кВ;
два режима работы вакуумной системы: высокий и низкий вакуум;
разрешение в режиме высокого вакуума 30 нм;
штатный детектор вторичных электронов;
штатный детектор отраженных электронов;
рабочее расстояние в диапазоне от 8 мм до 55 мм;
вращения образца на угол 90°, с шагом 1°;
максимальные размеры образца: 70 мм диаметр и 50 мм высота;
диапазон перемещения столика по осям X, Y: 35мм х 35мм;
автоматические функции: автозапуск, автофокус, автоконтраст и яркость, автостигматор, с возможностью ручной настройки всех параметров;
вакуумная система включает встроенный ротационный насос и турбомолекулярный насос;

Требования к образцам

максимальные размеры образца: 70 мм диаметр и 50 мм высота;
проводящие образцы в режиме высокого вакуума
диэлектрики в режиме низкого вакуума