Leica WLL

leica-wll.jpg
Изображение с сайта www.leica-microsystems.com

      Блок "белого" лазера для использования с конфокальным микроскопом Leica TCS SP5

прибор может быть использован для:

  • Осуществления спектрального сканирования препарата с перестроением длины волны возбуждающего света,
  • Осуществления сканирования с изменением возбуждения 470–670 nm, с изменением детекции 475-700нм (режим "лябмда-квадрат")
  • Уменьшения фототоксичности за счёт подбора оптимльной длины волны возбуждающего света и соответствующего уменьшения его мощности при тех же значениях интенсивности флуоресцентного сигнала
  • Получения изображения времени затухания флуоресценции (FLIM) с возбуждением в диапазоне 470–670 nm
  • Увеличения латерального разрешения по мeтодике STED-CW в случае использования белого лазера в качестве источника возбуждающего света и последующего дооснащения конфокального микроскопа новыми детекторами с функцией гейтирования (g-STED-CW). 
  • Более точного спектрального разделения близких по спектрам испускания флуорохромов

Размещение: василеостровская площадка

Статус: эксплуатация в тестовом режиме

› Календарь занятости Leica TCS SP5-MP


Основные технические характеристики

   Система имеет произвольно настраиваемый спектральный состав возбуждающего света с использованием «белого» лазера, позволяя выбрать до 8 свободно перестраиваемых лазерных линий из спектра суперконтинуума в диапазоне от 470 до 670 нм с селективностью 0,6 нм. Источник является импульсным с частотй повтора 80МГц и шириной импульса ~1нс, что позволяет использовать его в качестве источника для экспериментов по оценке времени затухания флуоресценции (FLIM).

Принцип работы

      Использование импульсного лазера и ИК лазера для накачки тонкого оптического волокна с пустотами менее длины волны света. В результате нелинейных явлений (генерации второй и высших гармоник, эффекта Керра, многоцветового смешивания и т.д.) получается полихроматическое излучение "суперконтинуум" в диапазоне от 470 до 670 нм.

Методики

Методики

Требования к образцам

Требования к образцам

Дополнительные аксессуары

Дополнительный аксессуары