Leica STED-CW
Блок реализации метода сверхразрешения Leica STED-CW прибор может быть использован для:
В будущем возможно дооснащение до gated-STED-CW, что позволит повысить разрешение до 50нм. Размещение: василеостровская площадкаСтатус: эксплуатация в тестовом режиме› Календарь занятости Leica TCS SP5-MPОсновные технические характеристикиВозбуждение:
Разрешение XY - до 80 нм (73нм - достигнутое на данном приборе), при использовании гейтирования до 50 нм Z-разрешение - конфокальное Скорость сканирования - до 18 кадров в секунду при растре 512х512 и латеральном разрешении 80 нм Принцип работы Принцип работы
Методики
Требования к образцам Использование совместимых флуорохромов, соблюдение раавенства коэффициентов преломления среды для заключения и иммерсионной среды, использование стандартных покровных стёкол толщиной 170 мкм
Дополнительные аксессуарыДополнительный аксессуары
|